INTEGRADORES DE TEST

Desde nuestra división de investigación y desarrollo ELANG ENGINEERING, se plantean soluciones de diseño y fabricación de sistemas de test asesorando a nuestros clientes sobre el mejor resultado posible garantizando la optimización y el equilibrio entre inversión en test, tiempo de proceso y amplitud del mismo.

En búsqueda de la automatización máxima.

Gestión de trazabilidad y registro de resultados.

Conectados con el cliente.

Flexibilidad modular.

Combinaciones óptimas de sistemas.

SISTEMAS DE TEST

Test In Circuit por camas de pinchos

Simple y rápido. Comprobando la calidad del producto mediante la medición de impedancias revisando fallos en componentes, cortocircuitos…

Test In Circuit flying probe

El más flexible. Utilizado cuando la tarjeta no dispone de puntos de test para acceder mediante una cama de pinchos.

Test funcional por cama de pinchos

Complejo y completo. Análisis global de la tarjeta aportando todo tipo de señales analógicas y digitales y realizando las consiguientes medidas que aseguren su correcto funcionamiento.

Sistemas de test funcionales independientes

Modular. Inspección realizada mediante equipos o columnas de exclusivos que simulan el funcionamiento final del circuito o producto.

Test boundary Scan X-Jtag

Sistema que comprueba funcionalmente la tarjeta a través de los propios componentes que la forman. Además, este sistema permite programar todo tipo de CPLDs y memorias después del ensamblado de la tarjeta.

Test burn in

Condiciones extremas. Unión entre test y cámaras climáticas con gradiente térmico de hasta 10ºCelsius/minuto y control de humedad.

Test de aislamiento

Complemento a comprobación funcional de equipos mecánicos como test de rigidez dieléctrica.